光學(xué)法中的激光干涉法和橢圓偏振光法在微米級薄膜測量中占據(jù)著重要地位。激光干涉法，利用了光的干涉現(xiàn)象，就像平靜湖面投入兩顆石子產(chǎn)生的漣漪相互交織 。當一束激光照射到薄膜上，在薄膜的上下表面會分別反射，這兩束反射光會相互干涉形成明暗相間的條紋。通過精確測量這些干涉條紋的間距和數(shù)量，再依據(jù)光的波長等參數(shù)，就能夠計算出薄膜的厚度。其精度高，甚至可達納米級，對于極薄的薄膜也能精準測量，并且是非接觸式測量，不會對薄膜造成物理損傷。然而，它對薄膜表面的平整度要求近乎苛刻，稍有不平整就可能影響測量結(jié)果；同時，環(huán)境中的振動和溫度變化也如同干擾信號，會使測量產(chǎn)生誤差。

橢圓偏振光法同樣精妙，當一束偏振光以特定角度入射到薄膜表面時，光與薄膜相互作用，其偏振狀態(tài)會發(fā)生改變。通過精密測量這種偏振狀態(tài)的變化參數(shù)，如橢偏參數(shù) Ψ 和 Δ ，再借助專業(yè)的光學(xué)模型和復(fù)雜的數(shù)據(jù)分析，就可以推算出薄膜的厚度和光學(xué)常數(shù)。它具有較寬的測量范圍，從納米級到微米級的薄膜都能測量，精度也較高，適用于多種類型的薄膜。但它的測量過程較為復(fù)雜，需要專業(yè)的知識和技能來操作儀器和分析數(shù)據(jù)，而且對測量環(huán)境的穩(wěn)定性也有一定要求。